使用金相顯微鏡系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數(shù)是否符合要求。

　　首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為最好，超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到最好的效果。

　　準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調(diào)整好焦距，通過載物臺移動后找到觀察位置�，F(xiàn)在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調(diào)節(jié)檢偏器，直到光線最黑時停止調(diào)節(jié)檢偏器。最后插入DIC,調(diào)節(jié)DIC進行偏光直到看到導電粒子最清晰時就可以停止了。